Ảnh hưởng của uốn xoắn đến độ tin cậy và tuổi thọ của dây dẫn bạc in

( 0 đánh giá )
Miễn phí

Nghiên cứu thực hiện thử nghiệm uốn xoắn trên ba loại mẫu dây dẫn bạc in với tỷ lệ chiều dài trên chiều rộng (LTW) khác nhau. Kết quả cho thấy LTW là yếu tố quan trọng ảnh hưởng đến độ bền: mẫu có LTW thấp (<3) chỉ chịu được trung bình 17 chu kỳ, trong khi mẫu có LTW >15 chịu được hàng trăm chu kỳ. Các mẫu được đo điện trở liên tục và phân tích bằng phân phối Weibull để đánh giá độ tin cậy. Phép đo nhiệt đồng bộ cho thấy sự phân bố nhiệt không đồng đều do biến dạng không thể phục hồi. Khoảng cách dây dẫn đến mép nền không ảnh hưởng đáng kể đến độ tin cậy. Kết quả cung cấp thông tin thiết kế hữu ích cho điện tử in và điện tử lai.