Phát hiện kim phẫu thuật thất lạc bằng lớp phủ huỳnh quang phát sáng dưới ánh sáng khả kiến và cận hồng ngoại

( 0 đánh giá )
Miễn phí

Dị vật phẫu thuật bị bỏ quên (RFO) gây hậu quả nghiêm trọng về lâm sàng và tài chính. Nghiên cứu phát triển lớp phủ huỳnh quang kép cho kim phẫu thuật sử dụng dansyl chloride và ICG, phát sáng dưới ánh sáng UV và NIR. Thử nghiệm trên mô hình thỏ cho thấy lớp phủ giúp phát hiện kim nhanh hơn và hiệu quả hơn so với phương pháp truyền thống. Trong cả hai môi trường mổ mở và nội soi, kim có lớp phủ đều được tìm thấy trong vòng 300 giây, trong khi nhiều kim không phủ bị thất lạc. Kết quả cho thấy lớp phủ giúp giảm thời gian tìm kiếm kim từ 64–74%, tăng tỷ lệ phát hiện và giảm nguy cơ RFO. Công nghệ này có tiềm năng ứng dụng thực tế trong phòng mổ để nâng cao độ an toàn phẫu thuật.