Bài báo mô tả quy trình hiệu chuẩn vận tốc kim peening bằng camera tốc độ cao và xử lý ảnh số. Mô hình FE được sử dụng để mô phỏng tác động đơn và đa kim, từ đó tính toán ứng suất dư và độ cong mẫu. Kết quả mô phỏng được so sánh với dữ liệu thực nghiệm từ đo đạc bằng CMM và XRD, cho thấy độ chính xác cao ở các mức áp suất peening trung bình và cao. Sai số lớn ở áp suất thấp được lý giải do sai lệch vận tốc kim. Phương pháp mô phỏng cho phép dự đoán hiệu quả ứng suất dư và biến dạng mẫu trong quá trình peening bằng kim khí nén.