Phân bố nhiệt độ không đều trên chip điện tử công suất ảnh hưởng lớn đến độ tin cậy thiết bị. Bài báo giới thiệu phương pháp VCE(T) đa dòng, sử dụng nhiều dòng đo để thu thập dữ liệu điện áp, từ đó giải hệ phương trình phi tuyến nhằm xác định phân bố nhiệt độ. Phương pháp này được kiểm chứng qua thí nghiệm chu trình công suất và so sánh với ảnh nhiệt hồng ngoại. Kết quả cho thấy độ chính xác cao và phù hợp với thực tế. Ngoài ra, việc sử dụng hàm toán học để mô hình hóa phân bố nhiệt độ giúp giảm số lượng tham số cần tính toán, tăng hiệu quả xử lý. Phương pháp này mở rộng khả năng ứng dụng của VCE(T) trong đánh giá độ tin cậy thiết bị điện tử công suất.