Phân tích các cơ chế hỏng hóc phổ biến của IGBT, đặc biệt là đứt dây nối do chu kỳ nhiệt và ứng suất cơ học.

• Sử dụng dữ liệu từ thử nghiệm lão hóa tăng tốc bằng chu kỳ công suất để xây dựng mô hình suy giảm theo từng pha.
• - Đề xuất mô hình xác suất sử dụng phân phối Poisson và Gamma để mô phỏng thời gian suy giảm của từng pha.
• - Áp dụng kỹ thuật mô phỏng Monte Carlo để dự đoán tuổi thọ còn lại của linh kiện dựa trên dữ liệu thực nghiệm.
• - So sánh độ chính xác và hiệu quả tính toán giữa các mô hình, sử dụng RMSE làm chỉ số đánh giá.
• - Mô hình cho kết quả dự báo nhanh (~0.3 ms mỗi điểm đo), phù hợp với hệ thống giám sát sức khỏe thời gian thực.